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精密四探針電阻率測試儀 型號： HAD-S2663 可根據不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料

比熱容測試儀 型號：HAD-R3C 符合GJB 330A-2000標準要求。此類儀器全部測量和控制均采用計算機控制，減少人為誤差，提高了測試精度。

顆粒強度測試儀 型號：H30760 容量:0～3000N 示值準確度：±1% 壓板：￠100mm 壓板間距：75mm 測試速度：12.7mm/min

自動扶梯同步率測試儀能方便地在現場測試各種自動扶梯和自動人行道的同步率偏差，節約測試時間，提高測試精度。

手指靈活性測試儀 型號；HAD-BD-Ⅱ-601 測定手指、手、手腕靈活性的心理學儀器，也可測定手和眼的協調能力。

手腕靈活性測試儀 型號；HAD-BD-Ⅱ-316 此實驗主要用于測定手腕翻轉的靈活性。